- 产品描述
- 技术指标
- 应用案例
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产品型号：
KMPL-L
产品简介：
低温强场微区激光克尔显微镜是针对二维铁磁材料磁性弱、样品尺寸小、部分样品不导电、矫顽场高、居里温度低等特性开发的一款功能强大的表征系统，该系统磁性探测精度高、能够微区定点测量和光斑位置定位、具备较高磁场和宽温区变温，可以满足大部分二维铁磁材料的磁特性表征需求。
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主要技术指标：
光学分辨率 450 nm 物镜 5×、20×、50×、100×，无磁 克尔转角分辨率 0.5 mdeg (RMS) 激光光斑 5 μm 面内磁场 水冷磁铁，常温 1 T@气隙 18 mm；低温 0.75 T @气隙 28 mm 垂直磁场 水冷磁铁，常温 1.6 T@气隙 10.5 mm；低温 1 T @气隙 24 mm 磁场分辨率 PID 闭环反馈调节，分辨率 0.05 mT 变温范围 4.2 K~420 K 温度稳定性 ±50 mK 电学源表 赛恩 OE1022、Keithley 6221、Keithley 2182A 测试功能 在常温、低温环境中可完成磁畴动态观测、激光定量微区磁滞回线扫描、电学输运测试、二次谐波测试 拓展 可以拓展耦合泵浦光、拉曼等光源 -
▶ Cr₅Te₈二维材料
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测试条件：极向克尔效应（相机）
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物镜倍数：50×
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详细描述：低温 150 K 下施加 250 mT 磁场，观察到磁畴成核点
▶ CrTe₂二维材料（12 nm）
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测试条件：极向克尔效应（相机 & 激光）
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物镜倍数：20×
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详细描述：150 K 下施加 700 mT磁场表现出 MOKE 信号
▶ 钇铁石榴石
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测试条件：极向克尔效应（相机）
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物镜倍数：50×
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详细描述：阶梯变温磁滞回线，测试温度与磁畴壁运动的关系
▶ Si/SiO₂/Ta(3)/Pt(3)/Co₇₄Tb₂₆(20)/Ta(2)
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测试条件：极向克尔效应（相机 & 激光）
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物镜倍数：50×
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详细描述：成像信号和激光信号测试效果
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低温强场微区激光克尔显微镜
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